Статья 1_3
Название статьи |
РИСКИ ОТКАЗОВ СЛОЖНЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ |
Авторы |
Юрков Николай Кондратьевич доктор технических наук, профессор, заведующий кафедрой, кафедра конструирования и производства радиоаппаратуры, Пензенский государственный университет |
Индекс УДК |
658.5 |
Аннотация |
Представлен механизм образования латентных дефектов печатных плат, предложена математическая модель развития латентного дефекта в явный на основе функции риска, что позволяет определить среднее время до появления очередного дефекта электронных средств сложных технических систем. Приведена модель функции риска в виде смещенного полинома Чебышева. Доказана справедливость применения методологии расчета надежности программного обеспечения к оценке надежности сложных технических систем длительного функционирования. |
Ключевые слова
|
Ключевые слова: модель, дефект, надежность, безопасность, риск, диагностика, сложная техническая система. |
Список литературы |
1. Панкратова, Н. Д. Системный анализ в динамике диагностирования сложных технических систем / Н. Д. Панкратова // Системнi дослiжениня та iнформацiйнi технологii. – 2008. – № 1. – С. 33–49. |
Дата обновления: 12.03.2015 13:23