МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАБОРА ИНФОРМАТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ДЛЯ ПРОВЕДЕНИЯ ИНДИВИДУАЛЬНОГО ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА И НАДЕЖНОСТИ РАДИОЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВ

Мишанов Роман Олегович, аспирант, Самарский национальный исследовательский университет им.академика С. П. Королева (443086, Россия, г. Самара, Московское шоссе, 34), mishanov91@bk.ru
Пиганов Михаил Николаевич, доктор технических наук, профессор, кафедра конструирования и технологии электронных систем и устройств, Самарский национальный исследовательский университет им. академика С. П. Королева (443086, Россия, г. Самара, Московское шоссе, 34), kipres@ssau.ru

621.382

DOI

10.21685/2307-4205-2017-1-12

Рассматривается методика определения набора информативных параметров для индивидуального прогнозирования надежности и качества радиоэлектронных средств космического назначения методами теории распознавания образов. Для отбора информативных параметров использован корреляционный и регрессионный анализ. Определены коэффициенты корреляции между прогнозируемым и информативными параметрами, а также между информативными параметрами. Проведена коррекция коэффициентов корреляции. Выявлен наиболее информативный параметр

Ключевые слова

надежность, качество, безопасность, радиоэлектронные средства, индивидуальное прогнозирование, информативные параметры, методика, микросхема, прогнозируемый параметр, космическая техника, корреляция, регрессия

 Скачать статью в формате PDF

1. Грущанский, В. А. О формализации показателей эффективности и безопасности комплексных программ в условиях неопределенности и риски / В. А. Грущанский, Н. К. Юрков // Надежность и качество сложных систем. – 2013. – № 2. – С. 3–9.
2. Северцев, Н. А. Системный анализ определения параметров состояния и параметры наблюдения объекта для обеспечения безопасности / Н. А. Северцев // Надежность и качество сложных систем. – 2013. –№ 1. – С. 4–10.
3. Юрков, Н. К. Оценка безопасности сложных технических систем / Н. К. Юрков // Надежность и качество сложных систем. – 2013. – № 2. – С. 15–21.
4. Тюлевин, С. В. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, Е. С. Еранцева // Надежность и качество сложных систем. – 2014. – № 1 (5). – С. 9–17.
5. Mishanov, R. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrated circuits / R. Mishanov, M. Piganov // The experience of designing and application of CAD systems in Microelectronics (CADSM 2015) : Proceeding XIII international conference. – Ukraine, Lviv, 2015. – P. 242–244.
6. Piganov, M. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements / M. Piganov, S. Tyulevin, E. Erantseva // The experience of designing and application of CAD systems in microelectronics (CADSM 2015) : Proceeding XIII international conference. – Ukraine, Lviv, 2015. – P. 367–371.
7. Тюлевин, С. В. Структурная модель индивидуального прогнозирования параметров космической аппаратуры / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов // Вестник Самарского государственного аэрокосмического университета. – 2008. – Вып.1. – С. 92–96.
8. Пиганов, М. Н. Прогнозирование надежности радиоэлектронных средств / М. Н. Пиганов, С. В. Тюлевин // Научно-технические ведомости СПбГПУ. Сер.:Информатика. Телекоммуникации. Управление. – 2009. – Вып.1. – С. 175–182.
9. Пиганов, М. Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок / М. Н. Пиганов. – М. : Новые технологии, 2002. – 267 с.
10. Мишанов, Р. О. Разработка прогнозной модели качества полупроводниковых приборов методом экстраполяции / Р. О. Мишанов, М. Н. Пиганов // Известия Самарского научного центра Российской академии наук. – 2014. – Т. 6, № 4 (3). – С. 594–599.
11. Пиганов, М. Н. Экспертные оценки в управлении качеством радиоэлектронных средств : учеб. пособие /М. Н. Пиганов, Г. А. Подлипнов. – Самара : Изд-во СГАУ, 2004. – 122 с.
12. Бурова, Д. Н. Корреляционный алгоритм определения параметров, прогнозирующих надежность интегральных схем / Д. Н. Бурова, А. И. Коекин, Г. Т. Софинский // Электронная техника. Сер. 3: Микроэлектроника. – 1972. – Вып. 4. – C. 58–61.
13. Харченко, М.А. Корреляционный анализ : учеб. пособие для вузов / М. А. Харченко. – Изд-во: ИПЦ ВГУ, 2008. – 31 с.
14. Жаднов, В. В. Сравнительный анализ методов оценки надежности полупроводниковых интегральных микросхем / В. В. Жаднов // Новые информационные технологии в автоматизированных системах. – 2013. – № 16. – С. 132–137.
15. Урличич, Ю. М. Дополнительные отбраковочные испытания современной космической электронной компонентной базы / Ю. М. Урличич, Н. С. Данилин, Д. А. Чернов // Современная электроника. –2007. – № 2. – С. 8–11.
16. Садыхов, Г. С. Оценка вероятности безотказного срабатывания объекта при высоких уровнях безотказности / Г. С. Садыхов, А. А. Артюхов // Труды Международного симпозиума Надежность и качество. – 2015. – Т. 1. – С. 37–38.
17. Гришин, А. Ф. Статистические модели: построение, оценка, анализ : учеб. пособие / А. Ф. Гришин, Е. В. Кочерова. – М. : Финансы и статистика, 2005. – 416 с.