АНАЛИЗ ТОЧНОСТИ КЛАССИФИКАЦИИ ЭЛЕКТРОРАДИОИЗДЕЛИЙ ДЛЯ КОСМИЧЕСКОЙ АППАРАТУРЫ В ЗАВИСИМОСТИ ОТ ВРЕМЕНИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ 

Мишанов Роман Олегович, кандидат технических наук, ассистент, кафедра конструирования и технологии электронных систем и устройств, Самарский национальный исследовательский университет имени академика С. П. Королева (443086, Россия, г. Самара, Московское шоссе, 34), E-mail: kipres@ssau.ru 

621.382 

DOI

10.21685/2307-4205-2019-4-12 

Актуальность и цели. Представлен анализ результатов исследовательских испытаний выборки стабилитронов и микросхем специального назначения с целью отбраковки потенциально дефектных электрорадиоизделий. Приводится информация о назначении и программе исследовательских испытаний микросхем, указывается связь обучающего эксперимента и исследовательских испытаний. Приведены важнейшие этапы методики обучающего эксперимента. Отмечены задачи каждого этапа методики. На примере выборки микросхем показано применение программы испытаний, определены режимы испытаний, выявлены наиболее информативные параметры. Получены математические модели индивидуального прогнозирования для исследуемой выбор ки на основе полученных результатов испытаний.
Материалы и методы. В качестве методов индивидуального прогнозирования состояния ЭРИ выбраны метод дискриминантных функций и метод регрессионных моделей.
Результаты и выводы. На основе полученных моделей определены вероятностные характеристики при каждом выбранном времени прогнозирования. 

Ключевые слова

индивидуальное прогнозирование, выборка, исследовательские испытания, дискриминантная функция, регрессионная модель, прогнозируемый параметр, информативный параметр, дисперсия ошибки, стабилитрон, микросхема, время прогнозирования 

 Скачать статью в формате PDF

1. Гришко, А. К. Методология управления качеством сложных систем / А. К. Гришко, Н. К. Юрков, И. И. Кочегаров // Труды Международного симпозиума Надежность и качество. – 2014. – Т. 2. – С. 377–379.
2. Герасимов, О. Н. Способ организации производственного контроля и диагностики РЭС с заданным уровнем остаточного ресурса / О. Н. Герасимов, А. В. Затылкин, Н. К. Юрков // Надежность и качество сложных систем. – 2016. – № 1 (13). – С. 94–98.
3. Тюлевин, С. В. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов космической аппаратуры / С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов, Е. С. Еранцева // Труды Международного симпозиума Надежность и качество. – 2014. – Т. 2. – С. 277–281.
4. Данилин, Н. Проектирование и разработка космических бортовых приборов, ориентированных на современную зарубежную электронную компонентную базу / Н. Данилин, С. Белослудцев // Современная электроника. – 2008. – № 4. – С. 54–59.
5. Пиганов, М. Н. Индивидуальное прогнозирование показателей качества элементов и компонентов микросборок / М. Н. Пиганов. – Москва : Новые технологии, 2002. – 267 с.
6. Мишанов, Р. О. Исследовательские испытания интегральных микросхем / Р. О. Мишанов, М. Н. Пиганов // Известия Самарского научного центра РАН. – 2016. – Т. 18, № 4 (7). – С. 1406–1409.
7. Гонсалес, Г. К. Принципы распознавания образов / Г. К. Гонсалес ; пер. с англ. И. Е. Гуревича ; под ред. Ю. И. Журавлева. – Москва : Мир, 1978. – 414 с.
8. Гаскаров, Д. В. Прогнозирование технического состояния и надежности радиоэлектронной аппаратуры / Д. В. Гаскаров, Т. А. Голинкевич, А. В. Мозгалевский ; под ред. Т. А. Голинкевича. – Москва : Советское радио, 1974. – 224 с.