НАДЕЖНОСТЬ ВХОДНОГО КОНТРОЛЯ 

Ванцов Сергей Васильевич, кандидат технических наук, доцент, кафедра технологии приборостроения, Московский авиационный институт (125993, Россия, г. Москва, Волоколамское шоссе, 4), vancov@medpractika.ru
Медведев Аркадий Максимович, доктор технических наук, профессор, кафедра технологии приборостроения, Президент Гильдии профессиональных технологов приборостроения, Московский авиационный институт (125993, Россия, г. Москва, Волоколамское шоссе, 4), medvedevam@bk.ru

624.382.049.77:621.396.6.049.75

В производстве электронной аппаратуры ответственного назначения, такой как авионика, вооружение, электронная аппаратура морского базирования, очень важно обеспечить надежность уже на первом этапе производства – входном контроле комплектующих и материалов. Предложена стратегия входного контроля в зависимости от уровня дефектности поступающих партий с учетом неизбежного наличия функционального контроля и наладки готовых изделий на последних этапах производства. Кроме того, применительно к массовому производству электроники рассматриваются стоимостные характеристики сплошного, выборочного и бесконтрольного входного контроля материалов и комплектующих, поступающих в производство, в сопоставлении с затратами на устранение последствий попадания дефектных компонентов и материалов в готовую продукцию.

авионика, надежность, электронные компоненты, производство электроники, входной контроль.

 Скачать статью в формате PDF

1. Медведев, А. М. Диагностический контроль электрических соединений в электронных системах / А. М. Медведев, Ф. В. Васильев, М. Л. Сокольский // Практическая силовая электроника. – 2013. – № 1 (49). – С. 42–44.
2. Медведев, А. М. Концепция входного контроля материалов и комплектующих, поступающих в производство / А. М. Медведев, Г. В. Мылов // Надежность. – 2013. – № 1 (44). – С. 115–125.
3. Медведев, А. М. Печатные платы. Физическая надежность межсоединений / А. М. Медведев // Надежность. – 2014. – № 2 (49). – С. 15–23.
4. Юрков, Н. К. Технология производства электронных средств : учеб. / Н. К. Юрков. – М. : Лань, 2014. – 480 с.
5. Юрков, Н. К. Технология радиоэлектронных средств / Н. К. Юрков. – Пенза : Изд-во ПГУ, 2013. – 640 с.
6. Технические измерения в технологии и производстве РЭА и измерительных систем : учеб. пособие / С. Ю. Байдаров, П. Г. Михайлов, В. И. Лапшин, Н. К. Юрков. – Пенза : Изд-во ПГУ, 2012. – 150 с.
7. Особенности разработки макромоделей надежности сложных электронных систем / Н. К. Юрков, А. В. Затылкин, С. Н. Полесский, И. А. Иванов, А. В. Лысенко // Труды Междунар. симп. Надежность и качество. – 2014. – Т. 1. – С. 101–102.
8. Стюхин, В. В. САПР в расчете и оценке показателей надежности радиотехнических систем / В. В. Стюхин, И. И. Кочегаров, В. А. Трусов // Труды Междунар. симп. Надежность и качество. – 2013. – Т. 1. – С. 287–289.
9. Лысенко, А. В. Способ снижения величины вибрационных нагрузок в несущих конструкциях ЭС и методика его реализующая / А. В. Лысенко // Надежность и качество сложных систем. – 2013. – № 4. – С. 41–44.
10. Лабораторный комплекс в архитектуре ИКОС как основа формирования умений / И. Д. Граб, А. В. Затылкин, Н. В. Горячев, В. Б. Алмаметов, Н. К. Юрков, В. Я. Баннов, И. И. Кочегаров // Труды Междунар. симп. Надежность и качество. – 2008. – Т. 1. – С. 213–215.