СЕМАНТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПЕРСПЕКТИВНЫХ ИЗДЕЛИЙ МИКРО- И НАНОЭЛЕКТРОНИКИ С ТОЧКИ ЗРЕНИЯ УВЕЛИЧЕНИЯ КЛЮЧЕВЫХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА И ТЕХНОЛОГИЧНОСТИ 

Адамов Александр Петрович, доктор технических наук, профессор, кафедра микроэлектроники, Дагестанский государственный технический университет (367006, Россия, Республика Дагестан, г. Махачкала, ул. Пирамидальная, 49), info@iu4.bmstu.ru
Адамова Арина Александровна, кандидат технических наук, доцент, кафедра проектирования и технологии производства электронной аппаратуры, Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана (105005, Россия, г. Москва, 2-ая Бауманская 5, стр. 1), arina.adamova@rambler.ru

658.52

DOI

10.21685/2307-4205-2017-3-14

Данная статья посвящена перспективному направлению использования в семантическом анализе перспективных изделий микро- и наноэлектроники. Основное внимание уделено показателям качества и технологичности. Для оценки надежно-сти системы, выбора показателей качества, описания связей системы и мета-системы используется системный анализ и системный подход. Проблема компактного визуального представления многофакторной и сложносвязанной информации является одной из основных в современных проектных процедурах. Рассмотрим методы и подходы визуального семантического анализа сложных систем и процессов на примерах перспективных объектов и процессов микро- и наноэлектроники.

Ключевые слова

показатели качества, технологичность, наноэлектроника, семантический анализ, надежность системы

 Скачать статью в формате PDF

1. Лаврушина, Е. Г. Теория систем и системный анализ / Е. Г. Лаврушина, Н. Л. Слугина. – Владивосток : Изд-во ВГУЭС, 2007. – 100 с.
2. Татарова, Г. Г. Методологическая травма социолога. К вопросу интеграции знания / Г. Г. Татарова //Социологические исследования. – 2006.– № 9. – С. 3–12.
3. Булатова, И. М. Графен: свойства, получение, перспективы применения в нанотехнологии и нанокомпозитах / И. М. Булатова // Вестник Казанского технологического университета. – 2011. – № 10. – С. 76–81.
4. Electric Field Effect in Atomically Thin Carbon Films / K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, A. A. Firsov // Science. – 2004. – Vol. 306. – P. 666–669.
5. Fior, G. Lateral Graphene hBCN Heterostructures as a Platform for Fully Two-Dimensional Transistors / G. Fior, A. Betti, S. Bruzzone, G. Iannaccone // ASC Nano. – 2012 – Vol. 6, № 3. – P. 2642–2648.
6. NanoTCAD ViDES. – URL: http://vides.nanotcad.com/vides (дата обращения: 14.01.2017).
7. Novoselov, K. S. Electric Field Effect in Atomically Thin Carbon Films / K. S. Novoselov, et al. // Science. – 2004. – Vol. 306. – P. 666. DOI:10.1126/science.1102896
8. Novoselov, K. S. The electronic properties of grapheme / K. S. Novoselov, A. K. Geim ; Department of Physics and Astronomy, University of Manchester, Manchester, M13 9PL. – United Kingdom, 2009. – 54 p.
9. Алексеенко, А. Г. Графен / А. Г. Алексеенко. – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014. – 168 с. 10. Адамова А. А. Применение инструментов когнитивной графики в преподавании конструкторскотехнологических дисциплин / А. А. Адамова // Информационные технологии в проектировании и производстве. – 2016.– № 3 (163). – С. 79–85.
11. Шахнов, В. А. Онтология наноинженерии / В. А. Шахнов и др. // Международный научно-исследовательский журнал. – 2013. – № 12-1 (19). – С. 50–67.
12. Адамова, А. А. Визуальное моделирование адаптации подготовки производства к выпуску новой продукции / А. А. Адамова, А. И. Власов // Информационные технологии в проектировании и производстве. – 2014.– № 2 (154). – С. 46–56.
13. Юрков, Н. К. Методология управления качеством сложных систем / Н. К. Юрков, А. К. Гришко, И. И. Кочегаров // Труды Международного симпозиума Надежность и качество. – 2014. – Т. 2. – С. 377–379.
14. Адамова, А. А. Методика оценки технологичности электронных изделий на этапах проектирования и производства / А. А. Адамова, А. П. Адамов, В. А. Шахнов // Труды Международного симпозиума Надежность и качество. – 2015. – Т. 2. – С. 352–356.
15. Адамов, А. П. Дифференциальные коэффициенты оценки технологичности электронных средств и их применение при структурно-функциональном моделировании производственных систем / А. П. Адамов, А. А. Адамова, А. И. Власов // Вестник Московского государственного технического университета им. Н. Э. Баумана. Сер.: Приборостроение. – 2015. – № 5 (104). – С. 109–123.
16 Адамова, А. А. Формирования технологичности электронных средств на этапах проектирования и производства / А. А. Адамова, А. П. Адамов // Евразийский союз ученых. – 2014. – № 6-3. – С. 6–8.
17. Адамова, А. А. Многоуровневая модель формирования технологичности электронных средств на этапах проектирования и производства / / А. А. Адамова, А. П. Адамов // Инженерный журнал: наука и инновации. – 2013. – № 11 (23). – С. 12.
18. Адамова, А. А. Проведение научных экспериментов в наноинженерии / А. А. Адамова, В. М. Башков, В. А. Шахнов и др. – М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2015. – 426 с.
19. Волкова, Я. Б. Транзисторные структуры на основе графена : автореф. дис. … техн. наук / Волкова Я. Б. – М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана. 2012. – 16 с.
20. Власов, А. И. Графеновый гибкий сенсорный экран с интегрированным аналого-цифровым преобразователем / А. И. Власов, Д. С. Терентьев, В. А. Шахнов // Микроэлектроника. – 2017. – Т. 46, № 3. –С. 1–9.
21. Власов, А. И. Анализ влияния формы мембраны на механическую прочность и стабильность параметров МЭМС-сенсоров давления / А. И. Власов, Т. А. Цивинская, В. А. Шахнов // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2016. – № 4. – С. 65–70.
22. Прототип нейросети создан из пластиковых мемристоров. – URL: http://www.nanonewsnet.ru/news/2016/prototip-neiroseti-sozdan-iz-plastikovykh-memristorov