АНАЛИЗ ПОГРЕШНОСТИ КВАНТОВАНИЯ ΣΔ-АЦП

Юрманов Валерий Анатольевич, кандидат технических наук, доцент, кафедра информационных технологий и систем, Пензенский государственный технологический университет (440039, Россия, г. Пенза, проезд Байдукова / ул. Гагарина, 1а/11) (841-2)49-60-09, YurmanovVA@gmail.com 
Пискаев Кирилл Юрьевич, старший преподаватель, кафедра информационных технологий и систем, Пензенский государственный технологический университет (440039, Россия, г. Пенза, проезд Байдукова / ул. Гагарина, 1а/11) (841-2)49-60-09, PiskaevK@gmail.com

621.3.087.92

Сегодня ΣΔ-АЦП считаются наиболее совершенными в классе интегрирующих аналого-цифровых преобразователей, что обусловлено их высокими метрологическими (достигнуто разрешение в 24 разряда) и техническими (простота реализации, надежность и т.д.) характеристиками. Однако по совокупному критерию «точность-быстродейст вие» современные ΣΔ-АЦП остаются непригодными для многих областей применения. В работе синтезирована дискретная модель, описывающая процесс преобразования во временной области. Модель объясняет механизм появления методической погрешности квантования и может использоваться при поиске алгоритмических и технических решений, направленных на ее минимизацию, в том числе в задачах оптимизации преобразователя по критерию «точность-быстродействие» для конкретной предметной области.

интегрирующие аналого-цифровые преобразователи; ΣΔ-АЦП; погрешность квантования ΣΔ-АЦП; анализ работы ΣΔ-АЦП во временной области

 Скачать статью в формате PDF

1. Кестер, У. Аналого-цифровое преобразование / У. Кестер ; пер. с англ. ; под ред. Е. Б. Володина. – М. : Техносфера, 2007. – 1016 с.  2. Шахов, Э. К. ΣΔ-АЦП: Процессы передискретизации, шейпинга шума квантования и децимации / Э. К. Шахов // Датчики и системы. – 2006. – № 11. – С. 50–57.
3. Юрманов, В. А. Реализации передискретизации в ΣΔ-АЦП на непрерывных интеграторах / В. А. Юрманов, К. Ю. Пискаев, А. В. Куц // Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии. – 2014. – № 1 (25). – С. 113–121.
4. Официальный сайт фирмы Analog Devices. – URL: http://www.analog.com, свободный (дата обращения: 14.01.2015).
5. Официальный сайт фирмы Texas Instruments. – URL: http://www.ti.com, свободный (дата обращения: 16.01.2015).
6. Особенности разработки макромоделей надежности сложных электронных систем / Н. К. Юрков, А. В. Затылкин, С. Н. Полесский, И. А. Иванов, А. В. Лысенко // Труды международного симпозиума Надежность и качество, 2014. – Т. 1. – С. 101–102.
7. Шахов, Э. К. ΣΔ-АЦП: Классификация и математические модели / Э. К. Шахов // Датчики и системы. – 2006. – № 12. – С. 69–77.
8. Баннов, В. Я. Автоматизированный стенд исследования процедуры формирования тестового воздействия при проведении диагностики логических схем электронных устройств / В. Я. Баннов, Е. В. Сапрова, А. В. Затылкин // Труды международного симпозиума Надежность и качество, 2011. – Т. 2. – С. 32–34.
9. Информационная технология многофакторного обеспечения надежности сложных электронных систем / Н. К. Юрков, А. В. Затылкин, С. Н. Полесский, И. А. Иванов, А. В. Лысенко // Надежность и качество сложных систем. – 2013. – № 4. – С. 75–79. 
10. Yurkov, N. K. A comparative analysis of the accuracy and dynamic characteristics of two systems for converting the parameters of passive electrical quantities into on active quantity / N. K. Yurkov, E. N. Kuznetsov, N. E. Kuznetsov // Measurement Techniques. – 2007. – V. 50, № 2. – February. – Р. 184–189.  
11. Analysis of the errors of active converters of passive electrical quantities / N. K. Yurkov, E. N. Kuznetsov, N. E. Kuznetsov, B. V. Tsypin // Measurement Techniques. – 2006. – V. 49, № 7. – July. – P. 703–705.