МОДЕЛИ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ В СЛОЖНЫХ СИСТЕМАХ ЭЛЕКТРОНИКИ 

Илья Михайлович Рыбаков, кандидат технических наук, доцент кафедры конструирования и производства радиоаппаратуры, Пензенский государственный университет (Россия, г. Пенза, ул. Красная, 40), E-mail: rybakov_im@mail.ru 

Аннотация

Актуальность и цели. Исследование динамических процессов сложных структур является основой при изучении поведения базовых элементов электронной аппаратуры. Проектирование сложных систем электроники обычно требует детального представления основных узлов и деталей. Чтобы выполнить проектирование сложной системы электронной аппаратуры, требуется всестороннее понимание функционирования внутрисистемных процессов. Материалы и методы. В настоящее время существует множество решений на основе численного, аналитического и эмпирических подходов. Аналитические методы, в свою очередь, делятся на строгие теоретические и основанные на методе конформных преобразований. Численные методы реализуются с применением программных средств, в основе которых лежат два базовых метода: метод граничных элементов и метод конечных элементов. Результаты. На практике же предпочтительней использовать относительно простые модели, так как такие выражения легко встраивать в современные САПР, предназначенные для проектирования электронных устройств. В литературе можно найти сравнение результатов, полученных с помощью вычислений, с экспериментально измеренными значениями. Для практического применения той или иной модели необходимо знать точность ее результатов. Выводы. Современные процессоры и ПЛИС работают на высокой частоте, начиная от 100 МГц и выше. На такой частоте время нарастания сигнала будет составлять наносекунды, а большая емкость линии может воспрепятствовать и существенно его увеличить, что приведет к потере бита. Емкость линии сильно влияет на ее импеданс. Не выдержанный импеданс передающей линии может привести к отражению сигнала на ее конце и возврату к передатчику. Это может привести к выходу его из строя, а также к ложным срабатываниям приемника. 

Ключевые слова

численный метод, аналитический метод, метод конечных элементов, печатный монтаж, сложные системы, электрические параметры 

 Скачать статью в формате PDF

Для цитирования:

Рыбаков И. М. Модели и методы измерения электрических параметров в сложных системах электроники // Надежность и качество сложных систем. 2023. № 2. С. 44–50. doi:10.21685/2307-4205-2023-2-5